科研室芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱又名高低溫沖擊測(cè)試箱，它是一種電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等工業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工、BGA、PCB基扳、電子晶片IC、半導(dǎo)體陶瓷及聚合物之物理性變體，以測(cè)試其材料對(duì)高冷性變體的反復(fù)抵觸拉力及產(chǎn)品在低溫下所造成的化學(xué)變體或物理傷害，從精密IC到重機(jī)械元件，均無(wú)所需的理想測(cè)試工具，以測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極熱和極低溫度條件下所造成的化學(xué)變體或物理傷害。

科研室芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊箱適用于電子、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力，試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的認(rèn)同。

結(jié)構(gòu)特點(diǎn):
1、產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。
2、冷熱沖擊箱分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采用*的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。
3、采用先進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠。中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行。
4、箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。
5、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖、冷熱沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。
6、具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高。
7、先進(jìn)科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角。
8、完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;

4. 標(biāo)GJB150.3-86;

5. 標(biāo)GJB150.4-86;

6. 標(biāo)GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;

10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;

13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。